1. Demonstração de técnicas analíticas “in situ” de razão isotópica de alta precisão analítica por meio de laser ablation (fonte: excimer 193 nm) – multi-coletor – ICP – MS (foto 1). No presente momento a razão 176Hf/177Hf no manto é ~ 0.283225 ± 0.00020 mas a 2 bilhões de anos atrás a razão 176Hf/177H = ~ 0.281760 ± 0.000020, portanto a precisão analítica deve ser melhor do que 20ppm.

Foto 1 – Laser Ablation – multi collector – ICP – MS – NEPTUNE

2. Demonstração de técnicas analíticas “in situ” Sr e de outros elementos (a definir) em apatita por meio de LA- ICP-MS (ICAP-Q, Thermo, Laser 213 New Wave), (responsável: Sandra Andrade – IG-USP).

3. Demonstração de análise isotópica “in situ” de alta resolução de massa por meio de “sensitive high resolution ion micro probe”, capaz de separar alguns tipos de isóbaros, com mínimo consumo de material (zircão), Foto 2.

Foto 2 – Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS) / Sensitive High Resolution Ion Micro Probe (SHRIMP). Espectrômetro de massa de alta resolução e de alta sensibilidade acoplado a uma sonda iônica.